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    當前位置:首頁(yè) >產(chǎn)品中心>掃描電子顯微鏡>柜式掃描電子顯微鏡>JSM-IT200掃描電子顯微鏡

    掃描電子顯微鏡

    簡(jiǎn)要描述:JSM-IT200掃描電子顯微鏡,是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像,成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號被探測器收集轉換成電訊號,經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極,調制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度,得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來(lái)測定樣品微觀(guān)形貌結構,可測樣品:土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品,

    • 產(chǎn)品型號:JSM-IT200
    • 廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
    • 更新時(shí)間:2024-04-09
    • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:2805

    詳細介紹

    JSM-IT200掃描電子顯微鏡

    主窗口 Z e r o m a g 觀(guān)察ー

    使用主窗口顯示的樣品架示意圖和光學(xué)C C D 圖像 *1 ,能尋找視野和定位 分析位置。

    顯示譜圖和顯示元素 顯示譜圖和顯示元素 Live Analysis 分析 *2

    通過(guò)顯示譜圖和顯示元素,能確認正在觀(guān)察中的視野的譜圖及主要元素。

    數據管理圖標 數據管理圖標 SMILE VIEW

    T M

    L a b 數據集中管理ー按下數據管理圖標并顯示數據管理窗口后,從 S E M 圖像到分析,對全部數據能創(chuàng )建批量報告、

    查看數據并重新分析數據。

    J S M - I T 2 0 0 在完成樣品交換的同時(shí),開(kāi)始觀(guān)察需要的視野。

    按照導航流程操作,也可以安全、方便、可靠地交換樣品。

    樣品交換導航

    樣品交換導航是從打開(kāi)樣品室到開(kāi)始觀(guān)察過(guò)程中進(jìn)行導航的功能。

    Zeromag

    只需擴大光學(xué)圖像,就可以過(guò)渡到 S E M 圖像

    Z e r o m a g 功能將與樣品臺位置關(guān)聯(lián)的樣品架示意圖、C C D 圖像 * (光學(xué)圖像)和S E M 圖像實(shí)現了聯(lián)動(dòng)??梢灾庇^(guān)地尋找分析區域,只需放大光學(xué)圖像就可以過(guò)渡到S E M 圖像,因而能防止弄錯觀(guān)察目標和樣品。

    Zeromag 的特長(cháng)

    ?能象用光鏡一樣直觀(guān)地移動(dòng)視野

    ?可以預約多個(gè)分析區域的測試

    ?可以輕松回溯到已測試完的區域

    Live Analysis

    S E M 觀(guān)察過(guò)程中始終顯示元素分析結果

    利用Live A n a ly s i s 功能,可以不必再分別考慮S E M 觀(guān)察和E D S 分析。在觀(guān)察窗口上可以隨時(shí)顯示分析區域內的特征X射線(xiàn)譜圖和自動(dòng)定性的主要構成元素名稱(chēng),還可以發(fā)現感興趣的元素和一些意想不到的元素。

    Live Analysis 的特長(cháng)

    ?始終顯示特征X射線(xiàn)譜圖

    ?通過(guò)顯示樣品的主要構成元素幫助發(fā)現意想不到的元素。

    ?對感興趣元素的標注“Alert"

    利用SEM觀(guān)察窗口上配置的全域/區域面分布圖圖標能獲取整個(gè)觀(guān)察區域或需要區域的元素面分布圖。

    可利用數據管理軟件 SMILE VIEWTM Lab 對采集的數據(如用譜圖、元素面分布圖、線(xiàn)分析對元素的再定位等)進(jìn)行各種分析。

    實(shí)時(shí) 凈計數面分布圖/定量面分布圖

    對每個(gè)像素點(diǎn)的譜峰進(jìn)行分離,顯示消除了臨近峰影響的元素面分布圖。對凈計數面分布圖進(jìn)一步校正計算,還有用定量值顯示的定量面分布圖。

    強度面分布圖和凈計數面分布圖

    Pb-Mα (2.342 keV)的譜峰 Bi-Mα (2.419 keV) 的譜峰很接近,在強度面分布圖中很難把BiPb的峰*分開(kāi)。通過(guò)顯示凈計數面分布圖,可以確認Bi元素原有的分布。

    JSM-IT200掃描電子顯微鏡技術(shù)規格

    設備型號

    IT200

    基本性能

    二次電子像分辨率

    3 nm (30 kV, 高真空)

    8 nm (3 kV, 高真空)

    15 nm (1 kV, 高真空)

    背散射電子像分辨率

    4.0 nm (30 kV, 高真空)

    加速電壓

    0.5 to 30kV

    放大倍數

    5x to 300,000x

    EDS 分析

    電制冷方式Dry SDD extra detector (不用液氮)

    EDS 分析位置: WD 10 mm, 取出角 35

    電子光學(xué)系統

    電子槍

    工廠(chǎng)預對中燈絲

    電子槍偏壓

    無(wú)縫式自偏壓

    聚光鏡

    可變焦聚光鏡

    物鏡

    超級圓錐形物鏡

    物鏡光闌

    3段式可動(dòng)(XY軸微調)

    像散存儲器

    內置

    圖像移動(dòng)

    ±50μmWD 10 mm

    探測器

    二次電子探測器

    高靈敏度半導體型背散射電子探測器

    自動(dòng)化功能

    自動(dòng)燈絲加熱

    內置

    自動(dòng)槍對中

    內置

    自動(dòng)聚焦

    內置

    自動(dòng)消像散

    內置

    自動(dòng)亮度和對比度調整

    內置

    樣品室

    最大樣品尺寸

    150 mm (直徑)

    可支持的選購附件

    EDS, WDS, EBSD, CLD, SHIC, SCU, Raman

    樣品臺

    X

    0 ~ 80 mm

    Y

    0 ~ 40 mm

    Z

    5 ~ 48 mm

    R

    360

    T

    -10 ~ 90

    最大視野范圍

    127 mm (直徑)

    最大樣品高度

    48 mm

    馬達驅動(dòng)

    2 (X, Y)

    圖像顯示系統

    PC?OS

    Windows®10

    顯示器

    24" LCD

    圖像存儲像素

    320x240, 640x480, 1280x960, 2560x1920, 5120x3840 pixels

    圖像保存格式

    Format: BMP, TIFF, JPEG

    操作系統

    操作導航器


    位于顯示屏下端的操作導航器可控制以下功能:用戶(hù)管理, 樣品交換, 菜單, 成像, 打印, 參數設定, 維護

    測量功能

    平行線(xiàn)間距測量

    垂直, 水平, 對角

    2點(diǎn)之間距離測量

    任意2點(diǎn)間距離

    圓的測量

    直徑, 2個(gè)圓中心間距離

    角度測量

    角度

    面積測量

    圓和多角形

    計數

    顆粒統計

    真空系統

    類(lèi)型

    全自動(dòng)抽真空系統

    油擴散泵

    420 /

    機械泵

    100 /: 1 (6510/A), 2 (6510LV/LA)

    外觀(guān)

    基本單元尺寸

    750 mm () x 1,000 mm () x 1,445 mm ()

    基本單元重量

    325 公斤

    安裝要求

    室溫

    20 ± 5

    濕度:

    低于60%

    供電

    單相 AC100 V, 50/60 Hz, 3 kVA


    E DS 適用于AAnalysis)和LALow V a c u u m &Analysis)配置。

    主要技術(shù)規格



    Basic(標配)

    Standard

    SEM 集成化

    SEM 控制軟件內置

    觀(guān)察/分析數據的集中管理

    SEM 操作窗口上定位分析位置(從SEM GUI上直接分析)

    分析位置的圖形顯示

    檢測器

    SDD 類(lèi)型

    參照檢測器列表

    譜圖分析

    定性分析(譜峰鑒別、自動(dòng)定性)

    Visual Peak ID

    無(wú)標樣定量分析(ZAF 法)

    標樣定量分析(ZAF 法) *4


    PHI-RHO-Z(PRZ) 法定量校正法

    線(xiàn)分析

    線(xiàn)分析(水平、任意方向

    元素面分布圖

    元素面分布圖(多色顯示、單色顯示、多色合成

    最大分辨率 4 , 0 9 6 × 3 , 0 7 2

    實(shí)時(shí)彈出譜

    譜峰分離圖 (凈計數面分布圖、定量面分布圖)

    實(shí)時(shí)凈計數面分布圖

    實(shí)時(shí)過(guò)濾器

    濃度分布曲線(xiàn)

    電子束追蹤

    連續分析

    譜圖分析、線(xiàn)分析、元素面分布

    測試完的數據的統一分析(定性、定量)

    蒙太奇功能

    自動(dòng)制作蒙太奇(SEM 圖像、元素面分布圖)

    多區域連續元素面分布圖

    顆粒度分析軟件

    顆粒度分析 (自動(dòng) / 手動(dòng))&EDS 分析

    顆粒度分析數據的分類(lèi)功能

    圖形顯示顆粒度分析數據的統計處理

    大區域的連續顆粒度分析 EDS 分析

    樣品臺導航系統上設定測試范圍

    數據管理功能和生成報告

    SMILE VIEW TM Lab

    幫助功能

    幫助導航

    離線(xiàn)功能

    與設備主機獨立的PC 上可以解析數據的離線(xiàn)軟件


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